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文件名称：数字电子技术（第三版）课件：测试集成门电路的逻辑功能.pptx
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总页数：12 页
更新时间：2025-12-04
总字数：约1.85千字
文档摘要
;1.能描述TTL与非门、CMOS与非门外接负载电路的结构和工作原理。
2.能区分TTL与CMOS接口电路的功能及特点。
3.能用合适的方法检测集成门电路的逻辑功能。;由于集成门电路的种类齐全,价格低廉,所以IC芯片在数字电路中已被广泛使用,掌握IC芯片逻辑电平的测试方法,是开发和维护数字电子设备的必要技能。IC芯片逻辑电平的测试是指在各逻辑输入端分别接入不同的电平值,用万用表测量逻辑输出端的电平值,并分析输入与输出是否符合逻辑关系。通常,TTL集成门电路的负载电流远远大CMOS集成门电路,可以直接驱动发光二极管(LED),所以也可以根