电磁干扰分析：屏蔽技术_（7）.屏蔽效能测试方法.docx

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文件名称：电磁干扰分析：屏蔽技术_（7）.屏蔽效能测试方法.docx

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更新时间：2025-12-07

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屏蔽效能测试方法

在电磁兼容设计中，屏蔽技术是防止电磁干扰（EMI）的重要手段之一。屏蔽效能测试方法是评估屏蔽材料或结构在特定电磁环境下的性能，确保其能够有效减少电磁干扰。本节将详细介绍几种常见的屏蔽效能测试方法，包括实验室测试和现场测试，以及如何使用这些方法来评估屏蔽材料和结构的性能。

实验室测试方法

1.传导干扰测试

传导干扰测试主要用于评估屏蔽材料对导电路径上的电磁干扰的抑制能力。测试方法通常包括使用传导干扰分析仪（CIA）或网络分析仪（VNA）来测量屏蔽材料在不同频率下的插入损耗。