基本信息
文件名称:2025年AI+研发数字峰会(AiDD峰会):面向智能测试的接口平台构建.docx
文件大小:5.71 MB
总页数:50 页
更新时间:2025-12-07
总字数:约3.46千字
文档摘要
面向智能测试的接口平台构建
刘敏|中兴通讯
目录CONTENTS1.背景/问题/
目录
CONTENTS
2.整体方案
3.具体技术实践
4.总结与展望
PART01
背景/问题/痛点
背景——聚焦核心场景,击穿全流程AI实践
随着人工智能技术的迅猛发展,越来越多的产品在实践中融合了AI,获得了显著的成果。在AI加持下,测试领域如何聚效核心场景,击穿测试全流程,实现10倍速的研发提效,值得深入研究。
痛点问题
项目以微服务架构的产品为主,重视接口层的防护,但也存在以下痛点。
1.人工编写
4.测试流程相关工具未打通
4.测试流程相