基本信息
文件名称:2025年AI+研发数字峰会(AiDD峰会):面向智能测试的接口平台构建.docx
文件大小:5.71 MB
总页数:50 页
更新时间:2025-12-07
总字数:约3.46千字
文档摘要

面向智能测试的接口平台构建

刘敏|中兴通讯

目录CONTENTS1.背景/问题/

目录

CONTENTS

2.整体方案

3.具体技术实践

4.总结与展望

PART01

背景/问题/痛点

背景——聚焦核心场景,击穿全流程AI实践

随着人工智能技术的迅猛发展,越来越多的产品在实践中融合了AI,获得了显著的成果。在AI加持下,测试领域如何聚效核心场景,击穿测试全流程,实现10倍速的研发提效,值得深入研究。

痛点问题

项目以微服务架构的产品为主,重视接口层的防护,但也存在以下痛点。

1.人工编写

4.测试流程相关工具未打通

4.测试流程相