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材料科学研究方法考试题集与答案

一、单选题（每题2分，共20题）

1.在材料成分分析中，X射线荧光光谱（XRF）技术主要用于测定材料的：

A.元素组成

B.晶体结构

C.微观形貌

D.热稳定性

2.下列哪种显微镜技术最适合观察材料的表面形貌？

A.透射电子显微镜（TEM）

B.扫描电子显微镜（SEM）

C.光学显微镜（OM）

D.原子力显微镜（AFM）

3.在材料力学性能测试中，拉伸试验主要用于测定材料的：

A.硬度

B.延展性

C.磁性

D.电阻率

4.下列哪种方法常用于测定材料的晶体结构？

A.X射线衍射（X