基本信息

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文档摘要

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多模态原子力显微镜硬件系统的创新研制与实验探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今科技飞速发展的时代，纳米科学技术作为前沿领域，对推动众多学科的进步和产业的革新起着关键作用。原子力显微镜（AtomicForceMicroscope，AFM）自问世以来，凭借其能够达到原子级别的高分辨率，成为探测纳米尺度下物质表面结构和物理性质的重要工具。它突破了传统光学显微镜分辨率受限于光波长的瓶颈，让科研人员得以深入探索微观世界。

随着对物质微观结构和性质研究的不断深入，单一模式的AFM已难以满足复杂多样的样品表征需求。例如，在生物医学领域，生物样品通常具有复杂的结构和动态变化过程，需要从多个