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文件名称:GaN器件的特性研究.docx
文件大小:1.68 MB
总页数:30 页
更新时间:2025-12-17
总字数:约1.5万字
文档摘要

1绪论

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2GaN器件的特性研究

2ResearchonthecharacteristicsofGaNdevices

2.1GaN器件的静态特性(StaticcharacteristicsofGaNdevices)

2.1.1GaN材料的特性

在发展历程里第一代半导体材料为硅、锗、硒,第二代为砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)之后,氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC)已成为典型的第三代半导体材料。材料的特性不同决定了这些导体器件的特性不同。目前发展,氮化镓GaN和碳化硅SiC发展较成熟。通过表格1对第二代、第三代典型