基于VBM技术探究伴有典型失神发作的特发性全面性癫痫的脑结构基础

一、引言

1.1研究背景

特发性全面性癫痫（IdiopathicGeneralizedEpilepsy，IGE）是临床上较为常见的一类癫痫，在癫痫疾病谱中占据着相当比例。其发病机制复杂，至今尚未完全明确，遗传因素在其发病过程中被认为起到关键作用，多个基因位点的突变或多态性与IGE的易感性相关，但具体的遗传模式和致病基因仍有待深入挖掘。IGE以全面性发作为主要临床表现，发作时脑电图呈现双侧同步对称的异常放电，且无明确的脑部结构性病变。

失神发作是IGE的主要发作类型之一，约占所有IGE病例的30％。典