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电力电子器件失效与寿命预测研究现状文献综述

现有的模型大多预测两种失效机制，即键合线失效和焊料疲劳。但是，应该注意的是，每个失效机制的模型并不相互排斥，因为这两个失效机制都是由于接口区域中的CTE不匹配造成的。事实上，有些型号是可以互换的。一般来说，电力电子模块的寿命预测方法有两种。第一种方法基于失效机理。虽然已经发现了各种失效机制，但现有的寿命预测模型主要针对与封装相关的失效。这类模型可分为两类：1）经验模型和2）基于失效物理（PoF）的模型。

这些模型大多将失效循环（Nf）描述为失效相关参数的函数，如结温摆（ΔTj）和平均结温（Tm）。第二种方法