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文件名称：布局与布线仿真：DRC检查_（8）.DRC检查在不同工艺节点的应用.docx
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更新时间：2025-12-28
总字数：约4.46千字
文档摘要
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DRC检查在不同工艺节点的应用
在集成电路设计中，设计规则检查（DRC,DesignRuleCheck）是确保设计符合制造工艺要求的关键步骤。不同工艺节点（例如180nm、65nm、28nm、14nm等）对设计规则的要求各不相同。本节将详细介绍DRC检查在不同工艺节点中的应用，包括常见的设计规则、检查方法和实际操作示例。
180nm工艺节点的DRC检查
180nm工艺节点是较早期的工艺节点，设计规则相对宽松，但仍需严格遵守以确保制造过程的可靠性。常见的DRC规则包括最小线宽、最小间距、最小孔径等。
常见设计规则
最小线宽（MinimumLine