基本信息
文件名称：测试与验证仿真：ATE测试仿真_（11）.ATE测试仿真中的测试模式与算法.docx
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总页数：15 页
更新时间：2025-12-29
总字数：约1.47万字
文档摘要
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ATE测试仿真中的测试模式与算法
引言
在集成电路设计与集成系统中，自动化测试设备（ATE,AutomaticTestEquipment）扮演着至关重要的角色。ATE测试仿真不仅用于验证设计的正确性，还用于优化测试过程，提高测试效率和降低测试成本。本节将详细介绍ATE测试仿真中的测试模式和算法，包括常见的测试模式、测试算法的设计原理及其应用。
常见的ATE测试模式
1.扫描测试模式
扫描测试模式（ScanTest）是数字电路测试中最常用的一种方法。通过将电路中的触发器串联成一个或多个扫描链，可以将测试数据从外部输入到电路中，并将电路的响应数据从