基本信息
文件名称:布局与布线仿真:物理验证_(9).提取与验证.docx
文件大小:27.86 KB
总页数:16 页
更新时间:2025-12-29
总字数:约1.46万字
文档摘要

PAGE1

PAGE1

提取与验证

1.提取原理

提取(Extraction)是指从集成电路的物理布局中提取出电路的寄生参数,如电阻、电容和互感。这些寄生参数对电路的性能有重要影响,特别是在高速和高频率应用中。提取过程通常包括以下几个步骤:

布局解析:从版图文件中读取几何信息和材料属性。

寄生参数计算:根据几何信息和材料属性计算寄生参数。

网表生成:将计算得到的寄生参数生成网表文件,用于后续的电路仿真。

1.1布局解析

布局解析是提取过程的第一步,主要涉及读取版图文件中的几何信息和材料属性。常见的版图文件格式有GDSII、OASIS等。这些文件包含了电路中的各种几何形状、层