基本信息
文件名称：中国国家标准 GB/T 4937.44-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法.pdf
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总页数：6 页
更新时间：2025-12-31
总字数：约1.63万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.442025IEC60749-442016
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分半导体器件的中子辐照单粒子
44
()
效应SEE试验方法
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:()
Part44NeutronbeamirradiatedsinleeventeffectSEEtestmethodfor
g
semiconductordevices
(:,)
IEC60749-442016IDT
2025-12-02发布2026-07-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBT4937.442025IEC60749-442016
前言
/—《:》
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GBT1.120201
起草。
/《》。/
本文件是半导体器件机械和气候试验方法的第部分已经发布了
GBT493744GBT4937
以下部分:
———:;
第部分总则
1
———:;
第部分低气压
2
———:;
第部分外部目检
3
———:();
第部分强加速稳态湿热试验
4HAST
———:;
第部分密封
8
———:;
第部分机械冲击器件和组件