基本信息
文件名称：《T_ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头》.pdf
文件大小：1.54 MB
总页数：7 页
更新时间：2026-01-06
总字数：约6.22千字
文档摘要
ICS31.240
CCSL97
团体标准
T/ZZB3888—2024
半导体芯片测试用探针头
Semiconductorchiptestprobeplungers
2024-12-06发布2024-12-06实施