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噪声与干扰抑制

在集成电路设计中，噪声与干扰是一个常见的问题，它们可以严重影响电路的性能和可靠性。本节将详细介绍噪声的来源、类型以及如何在电路仿真中进行噪声与干扰的抑制。我们将从理论和实践两个方面来进行探讨，确保读者能够理解噪声的本质，并掌握有效的抑制方法。

噪声的来源

噪声在集成电路中主要来源于以下几个方面：

热噪声：热噪声是由于导体中的自由电子在热运动中产生的随机电压波动。这种噪声在任何温度下都会存在，且与电阻值成正比。

散粒噪声：散粒噪声是由于载流子（电子或空穴）的随机到达和离开引起的。这种噪声主要在电流源和晶体管中出现，与电流值成正比。

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