基本信息
文件名称:《GB/T 46788-2025半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求》.pdf
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总页数:5 页
更新时间:2026-01-10
总字数:约6.75千字
文档摘要

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT467882025IEC624832013

半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的

锡须的环境接收要求

Environmentalaccetancereuirementsfortinwhiskersuscetibilitoftinand

pqpy

tinallosurfacefinishesonsemiconductordevices

y

(:,)

IEC624832013IDT

2025-12-02发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT467882025IEC624832013

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4测量锡须生长的试验方法………………6

4.1程序…………………6

4.2试验样品……………7

4.3注意事项……………7

4.4回流焊………………7

5表面镀涂的锡和锡合金接收试验程序…………………8

、…………

5.1技术制造工艺或相似性接收试验的确定8

5.2样品…………………11

5.3试验程序及持续时间………………13

5.4确定试验中用到的等级……………16

6接收试验判据……………16

6.1通则…………………16

6.2排除通孔引线端头的锡须…………16

7报告………………………17

7.1