基本信息
文件名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法标准立项修订与发展报告.docx
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总页数：4 页
更新时间：2026-01-10
总字数：约4.26千字
文档摘要
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《集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法》标准发展研究报告
EnglishTitle:DevelopmentResearchReporton*IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticImmunity-Part9:MeasurementofRadiatedImmunity-SurfaceScanMethod*
摘要
随着集成电路（IC）工艺尺寸的不断缩小、工作频率的持续攀升以及系统集成度的日益提高，电磁兼容性（EMC）已成为决定电子设备可靠性与性能的关键因素。传统的整机