基本信息
文件名称：半导体物理实验——高频光电导法测少子寿命.docx
文件大小：420.53 KB
总页数：2 页
更新时间：2026-01-12
总字数：约1.12千字
文档摘要
实验报告
院别
电子信息学院
课程名称
半导体物理实验
班级
实验名称
高频光电导法测少子寿命
姓名
实验时间
2018.11.07
学号
指导教师
成绩
批改时间
报告内容
实验目的和任务
1、了解光电导法测试少数载流子寿命的原理，熟练掌握LT-2高频光电导少数载流子寿命测试仪的使用方法；
2、测非平衡载流子的寿命。
实验原理
处于热平衡状态的半导体，在一定温度下，载流子浓度是一定的。这种处于热平衡状态下的载流子浓度，称为平衡载流子浓度。半导体的热平衡状态是相对的，有条件的。如果对半导体施加外界作用，破坏了热平衡的条件，这就迫使它处于与热平衡状态相偏离的状态，称为非平衡状态。处于非平衡状态的