《表面化学分析X射线光电子能谱选择仪器性能参数的表述》标准发展与应用报告

EnglishTitle:DevelopmentandApplicationReportontheStandardfor“Surfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—Descriptionofselectedinstrumentalperformanceparameters”

摘要：

X射线光电子能谱（XPS）作为表面化学分析领域最核心、应用最广泛的技术之一，其分析结果的准确性、可靠性与可比性直接关系到材料