基本信息
文件名称：T_ZZB 3888-2024 半导体芯片测试用探针头.docx
文件大小：31.62 KB
总页数：16 页
更新时间：2026-01-20
总字数：约3.9千字
文档摘要
ICS31.240CCSL97
团体标准
T/ZZB3888—2024
半导体芯片测试用探针头
Semiconductorchiptestprobeplungers
2024-12-06发布2024-12-06实施
浙江省质量协会发布
I
T/ZZB3888—2024
目次
前言 II
1范围 1
2规范性引用文件 1
3基本要求 1
4技术要求 2
5试验方法 3
6检验规则