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文档摘要

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ICS31.180

CCSL30

中华人民共和国国家标准

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GBT468212025

嵌入式基板测试方法

Testmethodsfordeviceembeddedsubstrate

(:,—:

IEC62878-1-12015DeviceembeddedsubstratePart1-1Generic

—,)

secificationTestmethodsMOD

p

2025-12-31发布2026-04-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT468212025

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

、………………………

3术语和定义缩略语1

3.1术语和定义…………………………1

3.2缩略语………………1

4测试方法…………………2

4.1测试条件……………2

4.2目检和显微剖切……………………2

4.3电气测试……………5

4.4机械测试……………11

4.5环境试验……………17

机械环境试验耐离子迁移………………………

4.6-20

5交货检验…………………21

5.1通则…………………21

5.2电测试………………23

5.3内部无损测试………………………32

5.4目视检查………………………