基本信息
文件名称:Tek宽禁带半导体材料及功率半导体器件测试 + AFG31252+MSO6B+探头, 2600-PCT, 4200A-SCS+SMU+PA + 说明书用户手册.pdf
文件大小:421.49 KB
总页数:1 页
更新时间:2026-02-06
总字数:约2.6千字
文档摘要
宽禁带半导体材料及功率半导体器件测试
概述:
?电阻率及电子迁移率通常范围较大,需要电流
宽禁带材料是指禁带宽度大电压范围都很大的设备。
于2.3eV的半导体材料,以
?电流源和电压表精度要高,保证测试的准确性。
Ⅲ-Ⅴ族材料等最为常见,
典型代表有碳化硅(SiC)和氮