基本信息
文件名称：《GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法》.pdf
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总页数：8 页
更新时间：2026-02-07
总字数：约1.85万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.372025IEC60749-372022
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分采用加速度计的板级跌落
37
试验方法
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part37Boardleveldrotestmethodusinanaccelerometer
pg
(:,)
IEC60749-372022IDT
2025-12-31发布2026-07-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBT4937.372025IEC60749-372022
目次
前言…………………………Ⅲ
引言…………………………Ⅴ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4试验设备和器件…………………………2
5试验程序…………………4
6失效判据和失效分析……………………7
7说明………………………7
()、、…………………
附录资料性标准电路板结构材料设计和版图
A9
参考文献……………………13
Ⅰ
/—/:
GBT4937.3720