基本信息
文件名称：《GB/T 4937.10-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击 器件和组件》.pdf
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总页数：8 页
更新时间：2026-02-07
总字数：约1.65万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.102025IEC60749-102022
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分机械冲击器件和组件
10
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestsmethods
:—
Part10MechanicalShockDeviceandsubassembl
y
(:,)
IEC60749-102022IDT
2025-12-31发布2026-07-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBT4937.102025IEC60749-102022
目次
前言…………………………Ⅲ
引言…………………………Ⅴ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4试验设备…………………2
5程序………………………3
6失效判据…………………5
7说明………………………6
Ⅰ
/—/:
GBT4937.102025IEC60749-102022
前言
/—《:》
本文件按照