基本信息
文件名称：JJF(皖) 259-2026 半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范.docx
文件大小：239 KB
总页数：41 页
更新时间：2026-02-07
总字数：约1.19万字
文档摘要
(皖)
安徽省地方计量技术规范
JJF（皖）259-2026
半导体器件PCT老化综合试验系统
校准规范
CalibrationSpecificationforIntegratedPCTAgingTestSystemsfor
SemiconductorDevices
2026—01—09发布2026—03—01实施
安徽省市场监督管理局发布
JJF(皖)259—2026
半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范
CalibrationSpecificationfor
Integrated