基本信息
文件名称:《GB/Z 119-2026晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测》.pdf
文件大小:271.46 KB
总页数:5 页
更新时间:2026-02-10
总字数:约1万字
文档摘要

ICS27.160

CCSK83

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

/—/:

GBZ1192026IECTS633422022

晶体硅光伏组件

光热诱导衰减()试验检测

LETID

()—

C-SihotovoltaicPVmodulesLihtandelevatedtemerature

pgp

()—

inducedderadationLETIDtestDetection

g

(:,)

IECTS633422022IDT

2026-01-04发布

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBZ1192026IECTS633422022

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4样品………………………2

5试验设备…………………2

6试验方法…………………2

6.1概述…………………2

6.2外观检查……………3

6.3电致发光试验………………………3

标准测试条件下的性能(性能)………………

6.4STC3

电注入法()进行硼氧复合体光衰()预处理…………

6.5CIDBO-LID3

6.6光热诱导衰减………………………4

7暗电压分析………