基本信息
文件名称:《GB/Z 119-2026晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测》.pdf
文件大小:271.46 KB
总页数:5 页
更新时间:2026-02-10
总字数:约1万字
文档摘要
ICS27.160
CCSK83
中华人民共和国国家标准化指导性技术文件
/—/:
GBZ1192026IECTS633422022
晶体硅光伏组件
光热诱导衰减()试验检测
LETID
()—
C-SihotovoltaicPVmodulesLihtandelevatedtemerature
pgp
()—
inducedderadationLETIDtestDetection
g
(:,)
IECTS633422022IDT
2026-01-04发布
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—/:
GBZ1192026IECTS633422022
目次
前言…………………………Ⅲ
引言…………………………Ⅳ
1范围………………………1
2规范性引用文件…………………………1
3术语和定义………………1
4样品………………………2
5试验设备…………………2
6试验方法…………………2
6.1概述…………………2
6.2外观检查……………3
6.3电致发光试验………………………3
标准测试条件下的性能(性能)………………
6.4STC3
电注入法()进行硼氧复合体光衰()预处理…………
6.5CIDBO-LID3
6.6光热诱导衰减………………………4
7暗电压分析………