基本信息
文件名称：无品牌实验指导12 r r说明书用户手册.pdf
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总页数：36 页
更新时间：2026-02-17
总字数：约2.93万字
文档摘要
实验一四探针法测电阻率
引言
电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻串的方法很多，四探针法
是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简屯操作方便，精确度向，对样品的形状无严
格要求。
本实验的目的是：掌握四探针测试电阻率的原理、方法和关于样品几何尺寸的修正，
并了解影响测试结果的因素。
原理
在一块相对于探针间距可视力半无穷大的均匀电阻率的样品上，有两个点电流源