年产320台电子元器件耐温测试箱生产项目可行性研究报告

第一章项目总论

项目名称及建设性质

项目名称：年产320台电子元器件耐温测试箱生产项目

建设性质：本项目属于新建工业项目，专注于电子元器件耐温测试箱的研发、生产与销售，旨在填补区域内高端测试设备产能缺口，满足电子信息产业对精准耐温测试设备的需求。

项目占地及用地指标：项目规划总用地面积35000平方米（折合约52.5亩），建筑物基底占地面积24800平方米；规划总建筑面积42000平方米，其中生产车间32000平方米、研发中心4500平方米、办公用房3000平方米、职工宿舍1500平方米、辅助设施1000平方米；绿化面积2450