京津冀汽车芯片AEC-Q100可靠性测试中心建设可行性研究报告

第一章项目总论

项目名称及建设性质

项目名称

京津冀汽车芯片AEC-Q100可靠性测试中心建设项目

项目建设性质

本项目属于新建高技术服务类项目，专注于汽车芯片AEC-Q100可靠性测试领域，旨在搭建符合国际标准、覆盖全流程测试需求的专业服务平台，填补京津冀区域在高端汽车芯片可靠性测试领域的资源缺口，为区域内汽车芯片设计、制造企业提供一站式测试解决方案。

项目占地及用地指标

本项目规划总用地面积18000平方米（折合约27亩），建筑物基底占地面积10800平方米；规划总建筑面积25200平方米，其中地上建筑面积22050平方米