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文件名称:光路板-基本试验和测量程序-第2-2部分:外形尺寸测量标准立项修订与发展报告.docx
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总页数:4 页
更新时间:2026-03-06
总字数:约3.93千字
文档摘要

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《光路板-基本试验和测量程序-第2-2部分:外形尺寸测量》标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReporton*OpticalCircuitBoards–BasicTestandMeasurementProcedures–Part2-2:Measurements–DimensionsofOpticalCircuitBoards*

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摘要

随着信息技术的飞速发展,数据传输速率已进入每秒数十吉比特乃至太比特时代,传统电互连技术在带宽密度、传输距离和功耗等方面面临严峻挑战。光互连技术凭借其高带宽、低损耗、抗电磁干扰等优