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PCB缺陷检测研究的国内外文献综述

1.1PCB表面元器件缺陷检测方法研究现状

早在上个世纪七八十年代，许多发达国家的一些先进科技公司与科研人员就开始展开有关于PCB缺陷检测的相关研究，在随后的十余年的研究中，有了一定的沉淀与积累，在使用AOI技术检测PCB质量的领域有了很大领先。早在1973年，就有学者提出利用二维非线性逻辑滤波检测PCB缺陷的方法[2]，这是AOI技术发展的先驱。1988年，多伦多大学的学者C.Charette[3]等人提出将图像分析技术应用在工业发展上的观点，引发了学者们的积极关注。自此国外开始大量开展利用AOI技术和图像处理来对P