X射线光栅相位衬度成像中剂量及散射光子对成像质量影响的深度剖析

一、引言

1.1X射线光栅相位衬度成像技术概述

X射线成像技术自1895年德国物理学家W.C.R?ntgen发现X射线以来，历经了漫长的发展历程，在医学诊断、工业检测、材料科学等众多领域都发挥着举足轻重的作用。传统的X射线成像主要基于物质对X射线的吸收差异来形成图像衬度，但对于一些弱吸收物质或具有相似吸收特性的材料，这种成像方式往往难以提供足够的对比度和分辨率，从而限制了对物体内部结构的精细观察与分析。

X射线光栅相位衬度成像技术应运而生，它突破了传统吸收成像的局限，开辟了全新的成像途径。该技术的基