基本信息
文件名称:National Instruments STS 物联网半导体器件制造测试解决方案.pdf
文件大小:990.23 KB
总页数:12 页
更新时间:2026-03-18
总字数:约1.16万字
文档摘要
解决方案宣传册
物联网半导体器件制造测试解决方案
目录
解决方案概述
关于NI半导体测试系统
STS典型配置
STS软件
工程开发服务
培训选项
服务与支持
24January2019
第1页||物联网器件制造测试解决方案
解决方案概述
针对物联网半导体器件的制造测试集成解决方案
在紧迫的上市时间压力下,开发计划的日程日益缩短,而且产品的
复杂性也随着每次迭代的进行而不断增加。半导体测试工程师要求
生产测试解决方案不仅要能够进行扩展来满足不断变化的测试要
求,还要能够进行简化来满足有限的预算需求。NI半导体测试系统
(STS)基于P