基本信息
文件名称:National Instruments STS 物联网半导体器件制造测试解决方案.pdf
文件大小:990.23 KB
总页数:12 页
更新时间:2026-03-18
总字数:约1.16万字
文档摘要

解决方案宣传册

物联网半导体器件制造测试解决方案

目录

解决方案概述

关于NI半导体测试系统

STS典型配置

STS软件

工程开发服务

培训选项

服务与支持

24January2019

第1页||物联网器件制造测试解决方案

解决方案概述

针对物联网半导体器件的制造测试集成解决方案

在紧迫的上市时间压力下,开发计划的日程日益缩短,而且产品的

复杂性也随着每次迭代的进行而不断增加。半导体测试工程师要求

生产测试解决方案不仅要能够进行扩展来满足不断变化的测试要

求,还要能够进行简化来满足有限的预算需求。NI半导体测试系统

(STS)基于P