平面拼接干涉仪子孔径扫描定位系统：原理、设计与应用探究

一、绪论

1.1研究背景与意义

1.1.1研究背景

在现代光学工程领域，光学系统正朝着大口径方向持续发展，这一趋势在空间光学、天文观测、高能激光等众多前沿领域尤为显著。在空间光学系统中，大口径光学元件能收集更多的光线，从而显著提高成像的分辨率和灵敏度，使得对遥远天体和空间目标的观测更加清晰和准确，为天文学研究、卫星遥感等提供更丰富的数据支持。在高能激光系统里，大口径光学元件则是实现高能量激光传输和聚焦的关键，对于激光加工、激光武器等应用具有重要意义。

然而，随着光学元件口径的不断增大，其面形误差的检测面临着前所未有的挑战。传统的检测方