基本信息
文件名称：GB/T 4937.9-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性.pdf
文件大小：286.33 KB
总页数：6 页
更新时间：2026-03-20
总字数：约1.55万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.92026IEC60749-92017
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分标志耐久性
9
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part9Permanenceofmarking
(:,)