基本信息
文件名称：GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法.pdf
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总页数：6 页
更新时间：2026-03-20
总字数：约1.83万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.412026IEC60749-412020
半导体器件机械和气候试验方法
:
第部分非易失性存储器可靠性试验方法
41
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
:
Part41Testmethodforreliabilitofnon-volatilememordevices
yy
(:,