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扫描链技术发展现状文献综述

外部输入测试向量的扫描链技术从上世纪七十年代开始产生，由于近几十年芯片结构复杂程度逐渐加剧，外部输入测试向量的扫描链技术的重要性也越来越被凸显[4]。

针对芯片和板级互联的测试，联合测试工作组（JTAG）提出了一种芯片测试的边界扫描标准，并和IEEE组织合作开发标准，被称为IEEE1149.1标准[5]。如图1.1所示，基于IEEE1149.1的测试协议的电路结构，主要分为指令寄存器，旁路寄存器，数据寄存器，测试存取端口，TAP控制器等。针对当时芯片外部引脚测试困难的情况，电路中在每个芯片引脚与芯片内部逻辑相连的部分放入