测试设备高精度ADC芯片（模数转换）选型及集成技术开发项目可行性研究报告

第一章项目总论

项目名称及建设性质

项目名称：测试设备高精度ADC芯片（模数转换）选型及集成技术开发项目

项目建设性质：本项目属于技术开发与产业化结合的新建项目，聚焦测试设备领域高精度ADC芯片的选型优化、集成技术研发及相关产品落地，旨在突破测试设备中高精度信号采集的技术瓶颈，提升国内测试设备核心部件自主可控能力。

项目占地及用地指标：项目规划总用地面积35000平方米（折合约52.5亩），建筑物基底占地面积22750平方米；总建筑面积42000平方米，其中研发实验楼18000平方米、生产车间15000平方米、