基本信息
文件名称：GB/T 47239.9-2026半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法.pdf
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总页数：5 页
更新时间：2026-03-31
总字数：约9.65千字
文档摘要
ICS31.080.99
CCSL55
中华人民共和国国家标准
/—
GBT47239.92026
半导体器件柔性可拉伸半导体器件
:()
第部分一晶体管一电阻式
91T1R
电阻存储单元性能测试方法
——
SemiconductordevicesFlexibleandstretchablesemiconductordevices
:
Part9Performancetestin