基本信息
文件名称：《GB/T 4937.28-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分：静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级》.pdf
文件大小：407.95 KB
总页数：8 页
更新时间：2026-03-31
总字数：约2.45万字
文档摘要
ICS31.080.01
CCSL40
中华人民共和国国家标准
/—/:
GBT4937.282026IEC60749-282022
半导体器件机械和气候试验方法
:()
第部分静电放电敏感度测试
28ESD
带电器件模型()器件级
CDM
——
SemiconductordevicesMechanicalandclimatetestmethods