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主讲：杨萍时间：2024年电镜法测粒径

背景解析电镜一般是指电子显微镜,包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）主要用于对样品进行表征分析。

背景解析测量颗粒形状、粒径有两种方法，一为图像分析仪，它由光学显微镜、图像板、摄像机和微机组成。其测量范围为1~100μm，若采用体视显微镜，则可以对大颗粒进行测量。背景解析

背景解析电子显微镜配图像分析仪，其测量范围为0.001~10μm。二为能谱仪，它由电子显微镜与能谱仪、微机组成。其测量范围为0.0001~100μm。背景解析

背景解析可测量颗粒的面积、周长及各形状参数，由面积、周长可得到相应的粒径，得到粒度分布。优点是具有可视性，可