基本信息
文件名称:2026年封装测试题目及答案.doc
文件大小:23.04 KB
总页数:8 页
更新时间:2026-04-03
总字数:约2.17千字
文档摘要

2026年封装测试题目及答案

一、单项选择题(每题2分,共20分)

1.以下哪种封装形式引脚数通常较少?

A.BGA

B.QFP

C.DIP

D.LGA

答案:C

2.封装过程中,芯片与基板连接的常用方式是?

A.焊接

B.胶粘

C.键合

D.铆接

答案:C

3.以下不属于封装材料的是?

A.陶瓷

B.塑料

C.玻璃

D.橡胶

答案:D

4.封装测试中,用于检测芯片电气性能的是?

A.外观检测

B.功能测试

C.老化测试

D.温度测试

答案:B

5.倒装芯片封装技术的优点不包括?

A.减小封装尺寸

B.提高电气性能

C.降低成本

D.增强