基本信息
文件名称:2026年封装测试题目及答案.doc
文件大小:23.04 KB
总页数:8 页
更新时间:2026-04-03
总字数:约2.17千字
文档摘要
2026年封装测试题目及答案
一、单项选择题(每题2分,共20分)
1.以下哪种封装形式引脚数通常较少?
A.BGA
B.QFP
C.DIP
D.LGA
答案:C
2.封装过程中,芯片与基板连接的常用方式是?
A.焊接
B.胶粘
C.键合
D.铆接
答案:C
3.以下不属于封装材料的是?
A.陶瓷
B.塑料
C.玻璃
D.橡胶
答案:D
4.封装测试中,用于检测芯片电气性能的是?
A.外观检测
B.功能测试
C.老化测试
D.温度测试
答案:B
5.倒装芯片封装技术的优点不包括?
A.减小封装尺寸
B.提高电气性能
C.降低成本
D.增强