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研究报告

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afm表面形貌分析测试

一、AFM表面形貌分析测试概述

1.AFM技术原理及发展历程

AFM技术，即原子力显微镜技术，是一种基于原子间相互作用力的纳米级表面形貌分析手段。其基本原理是利用一个尖端极其细小的探针，与被测样品表面原子间存在的范德华力相互作用，通过检测探针与样品之间的力变化来获得样品表面形貌信息。这一技术的核心在于高灵敏度的力检测器，它能够探测到原子级的力变化，从而实现对样品表面的精细刻画。自1986年由GerdBinnig和HeinrichRohrer发明以来，AFM技术经历了从原始的恒力模式到接触模式，再到非接触模式的发展过程，逐