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文档摘要

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集成电路测试策略设计考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本试卷旨在考核学生对集成电路测试策略设计能力的掌握程度，涵盖基本概念、方法及实际应用。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.集成电路测试的主要目的是什么？

A.提高电路性能

B.检测电路故障

C.降低电路功耗

D.提高电路集成度

2.以下哪种测试方法主要用于检测电路的时序问题？

A.功能测试

B.结构测试

C.性能测试

D.时序测试

3.下列哪项不是电路测试的层次？

A.单元测