基于多因素分析的X射线成像质量精准预测与参数优化策略研究

一、引言

1.1X射线成像技术概述

X射线成像技术作为现代科学领域中一项极为重要的检测手段，自1895年德国物理学家伦琴发现X射线以来，凭借其独特的穿透性和对物体内部结构的可视化能力，在多个领域得到了广泛应用。其成像原理基于X射线与物质相互作用时产生的吸收、散射等现象。当X射线穿透物体时，由于物体不同部位的密度、厚度以及原子序数存在差异，对X射线的吸收程度也各不相同，使得透过物体的X射线强度分布发生变化。这些变化的X射线被探测器接收后，经过转换、处理等过程，最终形成能够反映物体内部结构信息的图像。

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