烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的实验研究论文

摘要：本文通过实验研究，探讨了烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响，分析了不同烧结温度、保温时间及冷却速率等因素对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响规律。研究结果为优化LLZO固态电解质片的烧结工艺提供了理论依据。

关键词：烧结工艺；LLZO固态电解质；界面阻抗；实验研究

一、问题的提出

（一）烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响因素

1.烧结温度对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响

烧结温度是影响LLZO固态电解质片界面阻抗的关键因素之一。随着烧结温度的升高，LLZO固态电解质片的晶粒尺寸逐渐增大，晶界面积减小，从而